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发明名称 IC-Testvorrichtung
摘要
申请公布号 DE19750173(C2) 申请公布日期 2003.02.20
申请号 DE19971050173 申请日期 1997.11.12
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 ONISHI, TAKESHI;YATSUDA, MINORU;SUZUKI, KATSUHIKO
分类号 G01R31/26;G01R31/01;G01R31/28;G06F11/22;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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