发明名称 | 单片IC封装 | ||
摘要 | 本发明涉及具有保护单片IC免遭静电放电破坏的保护装置的单片IC封装,可以以简单的结构实现提高抗ESD量及抗ESD电压。在单片IC封装中具有单片IC11,封装单片IC11等的树脂封装13,设置在该树脂封装13中,同时通过布线18、19等同单片IC11电气连接的突起以及保护单片IC11免遭静电放电(ESD)破坏的保护装置,其结构是:通过用高阻抗材料形成突起而得到高阻抗突起14,使用该高阻抗突起14作为保护装置。 | ||
申请公布号 | CN1398000A | 申请公布日期 | 2003.02.19 |
申请号 | CN02101714.X | 申请日期 | 2002.01.14 |
申请人 | 三美电机株式会社 | 发明人 | 寺田幸弘 |
分类号 | H01L23/50;H01L23/60 | 主分类号 | H01L23/50 |
代理机构 | 北京银龙专利代理有限公司 | 代理人 | 熊志诚 |
主权项 | 1.一种单片IC封装,在该封装中,具有单片IC,封装该单片IC的封装,设置在该封装中,同时通过布线同上述单片IC实现电连接的外部接线端子,保护上述单片IC免遭静电放电破坏的保护装置,其特征在于:其结构是使用上述外部接线端子作为上述保护装置。 | ||
地址 | 日本东京 |