| 发明名称 |
High-speed rotation testing apparatus |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2373337(B) |
申请公布日期 |
2003.02.12 |
| 申请号 |
GB20020003011 |
申请日期 |
2002.02.08 |
| 申请人 |
* MARUWA ELECTRONIC INC |
发明人 |
KOJI * SHIBASAKI;TAKESHI * WATABE;SHIRO * SHIBASAKI |
| 分类号 |
G01M99/00;G01N3/00;G01N3/16;(IPC1-7):G01M1/02;G01M13/00 |
主分类号 |
G01M99/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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