| 发明名称 | 半导体集成电路 | ||
| 摘要 | 提供了一种识别微调错误的方法。一根熔丝连接到输出端和电位为VDD或VSS电平的端子之间，固定微调错误时的输出电压。或者，当微调操作错误时，在VDD和VSS之间形成短路，这样就会造成很大的电流，由此可以很容易地对错误进行检测。 | ||
| 申请公布号 | CN1396658A | 申请公布日期 | 2003.02.12 |
| 申请号 | CN02130390.8 | 申请日期 | 2002.07.05 |
| 申请人 | 精工电子有限公司 | 发明人 | 木村亮平 |
| 分类号 | H01L27/092;H01L21/82 | 主分类号 | H01L27/092 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 梁永 |
| 主权项 | 1、一种CMOS电路，包含有：设有熔丝微调结构的第一CMOS电路；设有第一源极、第一栅极和第一漏极的第一MOS晶体管，第一源极连接到电源电压上，第一栅极与第一测试信号端相连；第一熔丝，熔丝一端接到晶体管漏极，另外一端接到第一CMOS电路的输出端。 | ||
| 地址 | 日本千叶县 | ||