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发明名称 Testmustergeneratorschaltung für ein IC-Testgerät
摘要
申请公布号 DE19823931(C2) 申请公布日期 2003.01.23
申请号 DE19981023931 申请日期 1998.05.28
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 MASUDA, NORIYUKI;HASHIMOTO, SHINICHI
分类号 G01R31/3183;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/318;G11C29/00 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
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