发明名称 |
Organische Antireflex-Beschichtungspolymere, solche Polymere umfassende Antireflex-Beschichtungszusammensetzung und Verfahren zur Herstellung derselben |
摘要 |
Ein organisches Antireflex-Polymer, das eine Rückreflexion von tieferen Filmschichten verhindert und stehende Wellen eliminiert, die durch eine Dickenänderung des Photoresist und Licht verursacht werden, in einem Verfahren zur Herstellung ultrafeiner Strukturen, das ein Photoresist zur Lithographie verwendet, indem es 193 nm ArF einsetzt, und sein Herstellungsverfahren. Insbesondere ist das zur Herstellung ultrafeiner Strukturen von 64M, 256M, 1G und 4G DRAM Halbleiter-Vorrichtungen organische Antireflex-Polymer nützlich. Eine Zusammensetzung, die derartige organische Antireflex-Polymere enthält, eine daraus hergestellte Antireflex-Überzugsschicht und ein Verfahren zur Herstellung desselben.
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申请公布号 |
DE10207182(A1) |
申请公布日期 |
2003.01.23 |
申请号 |
DE20021007182 |
申请日期 |
2002.02.21 |
申请人 |
HYNIX SEMICONDUCTOR INC., ICHEON |
发明人 |
JUNG, MIN-HO;JUNG, JAE-CHANG;LEE, GEUN-SU;SHIN, KI-SOO |
分类号 |
G03F7/11;C08F4/04;C08F4/34;C08F8/00;C08F116/34;C08F212/14;C08F220/06;C08F220/28;C08L25/18;C08L29/00;C08L33/14;C09D125/18;C09D133/14;G03F7/09;H01L21/027;(IPC1-7):C08F220/28;C09D5/32;C09D133/10;C08F212/04;G03C1/825 |
主分类号 |
G03F7/11 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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