发明名称 Data generator for generating test data for word-oriented semiconductor memories
摘要 A data generator for generating test data for a word-oriented semiconductor memory is integrated on a semiconductor chip of the semiconductor memory. The data generator has a shift register.
申请公布号 US2003018934(A1) 申请公布日期 2003.01.23
申请号 US20020200633 申请日期 2002.07.22
申请人 OHLHOFF CARSTEN 发明人 OHLHOFF CARSTEN
分类号 G11C29/36;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/36
代理机构 代理人
主权项
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