发明名称 |
Data generator for generating test data for word-oriented semiconductor memories |
摘要 |
A data generator for generating test data for a word-oriented semiconductor memory is integrated on a semiconductor chip of the semiconductor memory. The data generator has a shift register.
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申请公布号 |
US2003018934(A1) |
申请公布日期 |
2003.01.23 |
申请号 |
US20020200633 |
申请日期 |
2002.07.22 |
申请人 |
OHLHOFF CARSTEN |
发明人 |
OHLHOFF CARSTEN |
分类号 |
G11C29/36;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/36 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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