发明名称 | 光学式传感器装置、及其信号处理装置和分支连接器 | ||
摘要 | 一种光学式传感器装置、光学式传感器的信号处理装置以及光学式传感器用的分支连接器,能够用1个信号处理装置来支持各种应用。连接器(101)对位移传感器型检测部中继电源线、驱动脉冲信号(P)、一对检测信号(A、A+B)、读出信号(i)、识别数据(j),但是也可以经分支连接器连接到透射光量型传感器的投光部及受光部上。位移传感器型检测部包含保持识别数据(j)的ROM,CPU(15)在通过发送读出信号(i)而从检测部发送来识别数据(j)时,用一对检测信号(A、A+B)来执行计测处理。另一方面,在未发送来识别数据(j)的情况下,只用一个检测信号来执行透射型传感器用的计测处理。 | ||
申请公布号 | CN1392390A | 申请公布日期 | 2003.01.22 |
申请号 | CN02123310.1 | 申请日期 | 2002.06.18 |
申请人 | 欧姆龙株式会社 | 发明人 | 井上佑一;富田公平;井上宏之 |
分类号 | G01D5/32 | 主分类号 | G01D5/32 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹;邵亚丽 |
主权项 | 1、一种光学式传感器装置,具备:位移传感器型检测部,出射光并根据该出射光的来自检测区域的反射光的受光量来输出一对检测信号;透射光量型检测部,出射光并根据该出射光的来自检测区域的透射光的受光量来输出检测信号;以及信号处理装置,用于处理来自这些检测部的检测信号;其中,上述信号处理装置具备:连接器,能够电连接到上述位移传感器型检测部及透射光量型检测部中的任一个上,而且不能同时连接这些检测部;多个检测信号端子,被包括在上述连接器中,用于中继来自上述位移传感器型检测部的一对检测信号及来自上述透射光量型检测部的检测信号;以及控制部,取入由上述检测信号端子中继的检测信号,选择性地执行使用来自上述位移传感器型检测部的一对检测信号的第1计测处理方式、和使用来自上述透射光量型检测部的检测信号的第2计测处理方式。 | ||
地址 | 日本京都府 |