| 主权项 |
1.一种用于一光学记录/再现系统之错误信号侦测方法,该方法包括:(a)侦测一被一记录介质反射及绕射后,入射于一物镜之一光线,其包括8个光成分,以一24矩阵排列,包括4个内光成分及4个围绕着该些内光成分的外光成分,其中,该矩阵之列及行分别与该记录介质之切线方向及沿径方向平行;(b)计算至少一个第一相加信号,其得自于将位于一第一对角方向之至少一个该些外光成分的一侦测信号与来自于一第二对角方向之至少一个该些内光成分的一侦测信号相加;(c)计算至少一个第二相加信号,其得自于将位于该第一对角方向之至少一个该些内外光成分的一侦测信号与来自于该第二对角方向之至少一个该些外光成分的一侦测信号相加;以及(d)比较该第一及该第二相加信号之相位,并输出至少一个相位比较信号;其中一倾角错误信号由该相位比较信号侦测而得。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中,在步骤(b)中,一对该第一相加信号得自于将位于该第一对角方向之一该外光成分的一侦测信号与来自于该第二对角方向之一该内光成分的一侦测信号相加,以及将位于该第一对角方向之另一该外光成分的一侦测信号与来自于该第二对角方向之一另该内光成分的一侦测信号相加;在步骤(c)中,一对该第二相加信号得自于将位于该第二对角方向之一该外光成分的一侦测信号与来自于该第一对角方向之一该内光成分的一侦测信号相加,以及将位于该第二对角方向之另一该外光成分的一侦测信号与来自于该第一对角方向之一另该内光成分的一侦测信号相加;且在步骤(c)中,该对第一相加信号之相位彼此相比较,且该对第二相加信号之相位彼此相比较,以输出一对相位比较信号,且该对相位比较信号彼此相加。3.如申请专利范围第1项所述方法,其中,在步骤(b)中,一第一相加信号得自于将位于该第一对角方向之一对该外光成分以及位于该第二对角方向之一对该内光成分的侦测信号相加;在步骤(c)中,一第二相加信号得自于将位于该第一对角方向之一对该内光成分以及位于该第二对角方向之一对该外光成分的侦测信号相加;以及在步骤(d)中,该第一及第二相加信号的相位互相比较,以输出一相位比较信号。4.如申请专利范围第3项所述之方法,其中步骤(d)又包括将该第一或该第二相加信号予以延迟。5.如申请专利范围第1至4项中任一项所述之方法,又包括在与该些外光成分之侦测信号相加之前,以一预定增益倍数,将自每一该些内光成分之侦测信号放大。6.如申请专利范围第1至4项中任一项所述之方法,又包括:(e)将位于该第一对角方向之该些外光成分及该些内光成分之该些侦测信号的一第三相加信号之相位,与位于该第二对角方向之该些外光成分及该些内光成分之该些侦测信号的一第四相加信号之相位相加,以侦测一循轨错误信号;以及(f)将步骤(d)所侦测得之该倾角错误信号减去由步骤(e)所侦测得之该循轨错误信号,而由该倾角错误信号中去除一脱轨成分。7.如申请专利范围第6项所述之方法,其中该步骤(f)又包括以一预定之增益倍数,将至少一个在步骤(d)侦测得之该倾角错误信号以及在步骤(e)中侦测而得之该循轨错误信号予以放大。8.一光学记录/再现系统之一错误信号侦测装置,包括:一光侦测器,以接收被一记录介质反射及绕射,而入射至一物镜之一光线;以及一信号处理器,以藉处理该光侦测器之侦测信号而侦测一错误信号;其中该光侦测器包括4个内光区段及4个外光区段,以一24之矩阵排列,以分别接收及光电转换该入射光线,每一对该内外光区段排列于该记录介质之一沿径方向,其中该矩阵之列与行分别与该记录介质之该沿径方向及一切线方向平行;以及该信号处理器将位于一第一对角方向之至少一个该外光区段及一第二对角方向之至少一个该内光区段的侦测信号相加的相位,与位于该第二对角方向之至少一个该外光区段及该第一对角方向之至少一个该内光区段的侦测信号相加的相位相比较,以输出至少一个相位比较信号,且该信号处理器由该相位比较信号侦测一倾角错误信号。9.如申请专利范围第8项所述之装置,其中该信号处理器包括:一第一相位处理器,以接收该第一对角方向上之一该外光区段,与该第二对角方向之一该内光区段之该些侦测信号的相加信号,以及与该第一对角方向之该外光区段同列的该第二对角方向之一该外光区段,与该对第一角方向之一该内光区段之该些侦测信号的相加信号,并比较接收之该两个相和信号的相位,输出一相位比较信号;一第二相位比较器,以接收该第一对角方向之另一该外光区段,与该第二对角方向之一另一该内光区段之该些侦测信号的相加信号,以及与该第一对角方向之另一该外光区段同列的该第二对角方向之另一该外光区段,与该第一对角方向之另一该内光区段之该些侦测信号的相加信号,并比较接收之该两个相和信号的相位,输出一相位比较信号;一加法器,将来自该第一及该第二相位比较器之该些相位比较相加。10.如申请专利范围第8项所述之装置,其中该信号处理器包括一相位比较器,以接收一第一相加信号,其得于将该第一对角方向之该些外光区段与该第二对角方向之该些内光区段的该些侦测信号彼此相加;并接收一第二相加信号,其得自于将该第二对角方向之该些外光区段与该第一对角方向之该些内光区段的该些侦测信号彼此相加,并比较该第一及第二相加信号之相位,以输出一相位比较信号。11.如申请专利范围第10项所述之装置,其中该信号处理器又包括一延迟器于该相位比较器之一输入端,其中该第一或第二相加信号由该输入端输入。12.如申请专利范围第8至11项中任一项所述之装置,其中该信号处理器又包括一增益控制器,以将来自于该些内光区段之该些侦测信号以一预定增益倍数予以放大,而该些侦测信号在被放大之后再与另外一些侦测信号相加。13.如申请专利范围第8至11项中任一项所述之装置,其中该信号处理器之输出信号用来作为一脱轨信号,指示一光点在该记录介质上,一轨道之中心偏离的程度。14.如申请专利范围第8至11项中任一项所述之装置,又包括一低通滤波器于该信号处理器之一输出端,以接收一信号,因此,一介于一物镜与记录介质之间的一相对倾角的角度可无虑循轨伺服操作而被侦测得。15.如申请专利范围第8至11项中任一项所述之装置,又包括一侦测器于该信号处理器之一输出端,以侦测来自该信号处理器之一信号的包波,其对应一介于一物镜与该记录介质之间的一相对倾角,或是侦测由该信号处理器输出之一信号的中间位准的改变,因此,介于该物镜与该记录介质之间的一相对倾角的角度可无虑循轨伺服操作而被侦测得。16.如申请专利范围第8至11项中任一项所述之装置,又包括:一循轨错误侦测器,以利用比较该第一对角方向之该些内外区段的该些侦测信号,与该第二对角方向之该些内外区段的该些侦测信号的相位而侦测一循轨错误信号;以及一区分构件,以将由该信号处理器输出之该信号减去来自于该循轨错误侦测器之该循轨错误信号,因此可去除在该倾角错误信号中之一脱轨成分。17.如申请专利范围第16项所述之装置,又包括一增益控制器,其介于至少该循轨错误侦测器及该信号处理器其中之一的该输出端,以及该区分构件之一输入端。18.如申请专利范围第8项所述之装置,其中该内外区段之宽度为固定値,或沿着该切线方向改变。19.如申请专利范围第8或18项所述之装置,其中该些内光区段接收约10-80%之由该记录介质反射及绕射之入射光的0级绕射光束。20.如申请专利范围第8或18项所述之装置,其中该4个光成分各包括了一对该内外光区段,其在径向及/或切线方向彼此分离。21.如申请专利范围第8至11项中任一项所述之装置,其中假设该倾角错误信号于+1或-1径向倾角之位准分别为v1及v2,在循轨状态下所侦测之该倾角错误信号满足(v1-v2)/(v1+v2)之最大绝对値为0.2或较小。22.如申请专利范围第8至11项中任一项所述之装置,其中假设该倾角错误信号于+1或-1径向倾角之位准分别为v3及v4,其中,该倾角错误信号满足v3或v4之最小绝对値,约为利用相位比较,在离轨时所侦测得之一循轨错误信号的50%。图式简单说明:第1图系绘示出由一般唯读记忆体式高密度记录介质所反射及绕射之光线;第2图系绘示出一光学记录/再现系统之一错误信号侦测装置,其由本发明所提供;第3图系绘示出基于本发明,使用一实施例中,一光学记录/再现系统中之错误信号侦测装置的光学读取装置;第4图系绘示出经由记录介质反射及绕射之后,由第3图中,光侦测单元所区分之8个光成分;第5-7图系绘示出基于本发明,光学记录/再现系统中之错误信号侦测装置的另一实施例;第8A及8B图系绘示第2图中,错误信号侦测装置之输出信号;第9A及9B图系绘示第5图中,错误信号侦测装置之输出信号;第10A及10B图系分别绘示第2及5图中,错误信号侦测装置之输出信号,其中,循轨错误信号之位准为一定値;第11图系绘示第2及5图中,脱轨对错误信号侦测装置之输出信号的效果;第12至14图系绘示出依据本发明所提出之错误信号侦测装置之另一实施例;第15图系绘示出依据本发明所提出之错误信号侦测装置之又另一实施例;第16A及16B图系绘示出第15图中倾角错误侦测器输出之倾角错误信号,以及在非循轨状态下,循轨错误信号侦测器所输出之循轨侦测器;第17A及17B图系绘示出基于本发明之错误信号侦测装置之信号处理器;第18图系绘示出具有凹槽之记录介质的一部分,其利用错误信号侦测装置,以侦测一倾角错误信号;第19图系绘示出第18图中,基于介于第18图之记录介质以及物镜之间之倾角而由一光侦测器所接收之光线;以及第20及21图系一平面图,绘示出本发明中,错误信号侦测装置中所采用之光侦测器。 |
