Halbleiterspeichervorrichtung, und Verfahren zum Testen derselben

摘要

Eine Halbleiterspeichervorrichtung und ein Verfahren zum Testen derselben ist beschrieben. Die Vorrichtung und das Verfahren können die Betriebsbedingungen durch Detektieren einer Testzelle optimieren, welche in einem Test einfach unter den Speicherzellen, die einen burn-in Test bestehen, durchfallen, und Detektieren der schlechtesten Betriebsbedingungen durch Durchführen des Tests auf der Testzelle. Die Vorrichtung und das Verfahren reduzieren den Energieverbrauch in einem Auffrisch- oder Aktivbetrieb. Gemäß der beschriebenen Vorrichtung und dem Verfahren testet eine Testeinheit eine Testzelle, steuert Betriebsbedingungen der Halbleiterspeichervorrichtung gemäß dem Testergebnis und gibt die Betriebsbedingungen aus. Eine Treibereinheit treibt die Halbleiterspeichervorrichtung, die Betriebesbedingungen, welche durh die Testeinheit gesteuert sind, einsetzend.