发明名称 |
Verfahren zur Dotierung eines Halbleiterkörpers |
摘要 |
Bei den bisher bekannten Verfahren ist bei einer grabenförmigen Struktur die Dotierung der Seitenwände an die Dotierung des Bodenbereiches gekoppelt. DOLLAR A Nach dem neuen Verfahren läßt sich bei einer grabenförmigen Struktur die Dotierung der Seitenwände unabhängig von der Dotierung des Bodenbereichs einstellen. Ferner läßt sich auch die Konzentration der Dotierung zwischen den einzelnen Seitenwänden unterschiedlich einstellen.
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申请公布号 |
DE10131704(A1) |
申请公布日期 |
2003.01.16 |
申请号 |
DE20011031704 |
申请日期 |
2001.06.29 |
申请人 |
ATMEL GERMANY GMBH |
发明人 |
DUDEK, VOLKER;GRAF, MICHAEL;DIETZ, FRANZ;KLAUSSNER, MANFRED;HERRFURTH, JOERN;BROMBERGER, CHRISTOPH |
分类号 |
H01L21/265;H01L21/336;H01L21/762;H01L29/06;H01L29/08;H01L29/78;(IPC1-7):H01L21/764 |
主分类号 |
H01L21/265 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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