发明名称 Systeme und Verfahren zum Testen von Anschlußflächentreibern von integrierten Schaltungen
摘要 Eine bevorzugte integrierte Schaltung (IC) umfaßt eine erste Anschlußfläche, die mit mindestens einem Abschnitt der IC elektrisch kommuniziert. Die erste Anschlußfläche umfaßt einen ersten Treiber und einen ersten Empfänger, wobei der erste Treiber konfiguriert ist, um ein erstes Anschlußflächenausgangssignal zu einer Komponente außerhalb der IC zu liefern, und der erste Empfänger konfiguriert ist, um ein erstes Anschlußflächeneingangssignal von einer Komponente außerhalb der IC zu empfangen. Der erste Empfänger ist ferner konfiguriert, um zu einer Komponente in der IC ein erstes digitales Empfängerausgangssignal, ansprechend auf das erste Anschlußflächeneingangssignal, zu liefern. Eine erste Testschaltung ist ferner vorgesehen, die sich innerhalb der IC befindet. Die erste Testschaltung ist angepaßt, um Informationen zu liefern, die einer Treiber-Takt-zu-Ausgangssignal-Zeit der ersten Anschlußfläche (216; 500) entsprechen. Systeme, Verfahren und ein Computer-lesbares Medium sind ebenfalls vorgesehen.
申请公布号 DE10219134(A1) 申请公布日期 2003.01.16
申请号 DE20021019134 申请日期 2002.04.29
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) 发明人 REARICK, JEFF;ROHRBAUGH, JOHN;SHEPSTON, SHAD
分类号 G01R31/3187;G01R31/319;G06F11/24;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/3187
代理机构 代理人
主权项
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