| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Aufschneiden von Lebensmittelprodukten mit ungleichmäßiger Innenstruktur, wie z.B. Wurst oder Schinken, bei dem die Produkte (11) in Scheiben (S) geschnitten und insbesondere geschindelte Portionen oder Stapelportionen gebildet und aus dem Aufschneidebereich (31) abtransportiert werden, und bei dem während des Aufschneidens mittels einer optoelektronischen Erfassungseinrichtung in aufeinanderfolgenden Erfassungsvorgängen (E) Informationen über die Kontur und die Struktur der Produktscheiben gewonnen werden, indem der Aufschneidebereich ausgeleuchtet und von den Schnittflächen (13) der jeweils vom Produkt abzutrennenden Scheiben und aus dem Randbereich (15) der Scheiben reflektierte Ausleuchtstrahlung nachgewiesen und ausgewertet wird, wobei in wenigstens einem und bevorzugt in jedem Erfassungsvorgang (E) die Ausleuchtung in mehreren richtungsunabhängigen Komponenten (k) durchgeführt wird, die sich zumindest hinsichtlich eines Ausleuchtparameters voneinander unterscheiden. Die Erfindung betrifft außerdem eine Aufschneidevorrichtung, die insbesondere zur Durchführung eines derartigen Aufschneideverfahrens geeignet ist.</p> |
