发明名称 | 实时掺氮生长p型ZnO晶体薄膜的方法 | ||
摘要 | 本发明的实时掺氮生长p型ZnO晶体薄膜的方法是采用磁控溅射法,先将衬底表面清洗后放入直流反应磁控溅射装置的反应室中,反应室真空度抽到至少10<SUP>-3</SUP>Pa,然后加热衬底,使衬底温度为200~600℃,以高纯氨气NH<SUB>3</SUB>和高纯氧气O<SUB>2</SUB>为溅射气体,该二种气体分别由流量计控制输入装置的缓冲室,在缓冲室充分混合后引入真空反应室,在1~10Pa压强下,以高纯Zn为靶材,进行溅射生长,其中氨气与氧气的分压比根据掺杂浓度调节。根据NH<SUB>3</SUB>与O<SUB>2</SUB>不同的分压比可以制备不同掺杂浓度p型ZnO晶体薄膜,生长的时间由所需的厚度决定。 | ||
申请公布号 | CN1391259A | 申请公布日期 | 2003.01.15 |
申请号 | CN02136110.X | 申请日期 | 2002.07.17 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 黄靖云;叶志镇 |
分类号 | H01L21/20;H01L21/34 | 主分类号 | H01L21/20 |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 韩介梅 |
主权项 | 1.实时掺氮生长p型ZnO晶体薄膜的方法,其特征是采用磁控溅射法,先将衬底表面清洗后放入直流反应磁控溅射装置的反应室中,反应室真空度抽到至少10-3Pa,然后加热衬底,使衬底温度为200~600℃,以高纯氨气和高纯氧气为溅射气体,该二种气体分别由流量计控制输入装置的缓冲室,在缓冲室充分混合后引入真空反应室,在1~10Pa压强下,以高纯Zn为靶材,进行溅射生长,其中氨气与氧气的分压比根据掺杂浓度调节。 | ||
地址 | 310027浙江省杭州市西湖区玉古路20号 |