| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft eine interferometrische Messvorrichtung zur Wellenlängenkalibrierung mit einer Laserlichtquelle (1), einem Detektor (2) und einem Interferometer (3), wobei die Laserlichtquelle (1) Licht mindestens einer Wellenlänge emittiert, wobei das Interferometer (3) das Licht der Laserlichtquelle (1) in zwei Teilstrahlen (4, 5)- einen Referenzstrahl (4) und einen Messstrahl (5) - trennt und die Teilstrahlen (4, 5) nach mindestens einer Reflexion an jeweils einem Reflexionsmittel (6) wieder vereinigt, wobei die Weglängendifferenz zwischen dem Referenzstrahl (4) und dem Messstrahl (5) eine konstante Wellenlängen-Kalibrierstrecke definiert. Zur Erhöhung der Messgenauigkeit bzw. zur Verringerung der Messfehler kann die Strecke des Messstrahls verlängert werden, ohne jedoch Probleme bei der Fertigung, Montage und/oder Justage zu verursachen. Die erfindungsgemäße interferometrische Messvorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, dass im Strahlengang des Messstrahls (5) mindestens ein zusätzliches Reflexionsmittel (8) vorgesehen ist, das den Messstrahl zumindest weitgehend in die entgegengesetzte Richtung reflektiert. <IMAGE></p> |
