发明名称 | 同时检测多个具有不同能量的X射线的X射线杂质检测装置 | ||
摘要 | 一种X射线杂质检测装置及方法,其中传送部分(3)传送被检测对象,以穿过X射线生成部分(1)照射出的X射线。沿穿过被检测对象的X射线的传输方向设置第一传感器模块(2a),接收穿过被检测对象的部分X射线,并输出对应于第一X射线能量的第一电信号。第二传感器模块(2b)接收穿过被检测对象的X射线的剩余部分,并输出对应于不同于第一X射线能量的第二X射线能量的第二电信号。根据在基本相同的检测时间从第一和第二传感器模块(2a、2b)输出的第一电信号和第二电信号,可检测混入被检测对象中的杂质的存在/不存在。 | ||
申请公布号 | CN1389724A | 申请公布日期 | 2003.01.08 |
申请号 | CN02122277.0 | 申请日期 | 2002.06.04 |
申请人 | 安立股份有限公司 | 发明人 | 大槻智保 |
分类号 | G01N23/18;G01N23/083 | 主分类号 | G01N23/18 |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 韩宏 |
主权项 | 1.一种X射线杂质检测装置,其特征在于包括:一个X射线生成部分(1),照射X射线;一个传送部分(3),传送被检测对象,以穿过X射线生成部分(1)照射出的X射线;一个第一传感器模块(2a),沿穿过被检测对象的X射线的传输方向设置,接收穿过被检测对象的部分X射线,并通过使用穿过被检测对象的部分X射线,输出对应于第一X射线能量的第一电信号;和一个第二传感器模块(2b),接收穿过被检测对象的X射线的剩余部分,并通过使用穿过被检测对象的X射线的剩余部分,输出对应于不同于第一X射线能量的第二X射线能量的第二电信号,其中,根据在基本相同的检测时间、从第一和第二传感器模块(2a、2b)输出的对于相同被检测对象的分别对应于第一X射线能量和不同于第一X射线能量的第二X射线能量的第一电信号和第二电信号,检测混入被检测对象中的杂质的存在/不存在。 | ||
地址 | 日本东京都 |