发明名称 直流高压测试系统待测物之侦测方法及其装置
摘要 本发明揭示一种直流高压测试系统待测物之侦测方法及装置,其具有当高压电流流经该装置时能正确地记录该电流值,且当该电流值极低时可侦测出该待测物是否连接或未连接于该系统之上,而当该电流值极高且超出一预定之范围时,该系统会产生切断输出高压之信号,同时切断高压之输出而达到保护该直流高压测试系统使用者之功效。
申请公布号 TW515897 申请公布日期 2003.01.01
申请号 TW089102600 申请日期 2000.02.16
申请人 华科技股份有限公司 发明人 吴南世;王耀南
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 何金涂 台北巿大安区敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种直流高压测试系统待测物之侦测方法,包含:当施加一直流高压于待测物时,根据i=(V/R)e-t/RC可获得一高压电流之充电电流波形的暂态,该方法之特征为:无需在正常测试模式下先行设定一预定之充电电流下限値,而是利用该充电电流之初始电流値大于后续电流値来进行该待测物之连接状态的判断步骤,其中i为高压电流,R为限流电阻,c为电容,t为充电时间;以及根据该判断步骤之充电电流之初始电流値是否大于后续电流値来确定该待测物是否完成正确之高压测试连接,否则切断该直流高压之产生。2.如申请专利范围第1项之方法,其中该待测物包含电容性负载,正温度系数(PTC)电阻性负载,电缆线,及变压器。3.一种直流高压测试系统待测物之侦测装置,包含:一高压产生器,用于产生一直流高压施加于一待测物之上供测试该待测物之耐压及漏电流用;一分压电路,用于取出该高压产生器所产生之部分该直流高压作为第一电位及取出该待测物上所产生之部分充电电流作为第二电位;一差动电路,用于确定该第一电位与该第二电位间之差动操作电位;一电流侦测器,用于侦测是否有电流自该侦测装置中输出;一类比/数位转换器,用于转换该类比式差动操作电位为一数位式差动操作値;一中央处理器,用于根据该差动操作値输出一高压切断信号于该高压产生器或一测试结果値;以及一输入/输出单元,用于输入该直流高压测试系统用之设定参数及输出该测试结果値,其中无需在正常测试模式下先行设定一预定之充电电流下限値,而是利用该充电电压之电流波形中之初始电流値大于后续电流値,在该差动电路中产生一差动操作値而确定高压测试之连接正确,否则藉该中央处理器切断高压产生器之高压输出。4.如申请专利范围第3项之装置,其中该待测物包含电容性负载,正温度系数(PTC)电阻性负载,电缆线,及变压器。图式简单说明:第1图系一流程图,描绘根据本发明直流高压测试系统待测物之侦测方法;第2图系一方块图,描绘根据本发明直流高压测试系统待测物之侦测装置;以及第3图系一概略图示,描绘一RC充电电路及其电压与电流波形。
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