| 发明名称 | 决定分离闸存储胞元特性的方法 | ||
| 摘要 | 一种决定分离闸存储胞元特性的方法包括:将存储胞元初始化;将存储胞元置于反操作模式;扫视存储胞元的控制闸电压;量测胞元的源极电压以及决定存储胞元的耦合比例。初始化包含将胞元的漂浮闸完全充电并在此时进行量测。定义含有其中为两耦合比例的三未知变量的第一函数与仅有两耦合比例为未知变量的第二函数。通过使用量测值解第一函数与第二函数以决定分离闸存储胞元的两耦合比例。这样可建立所述分离闸存储胞元的一准确等效模式。 | ||
| 申请公布号 | CN1388576A | 申请公布日期 | 2003.01.01 |
| 申请号 | CN01119743.9 | 申请日期 | 2001.05.24 |
| 申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 高启弘 |
| 分类号 | H01L21/8247;H01L21/66;G11C16/00;G11C29/00 | 主分类号 | H01L21/8247 |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 任永武 |
| 主权项 | 1.一种用于决定一分离闸存储胞元特性的方法，包括下列步骤：将一漂浮闸完全充电；于漂浮闸完全充电时量测所述存储胞元的一参数；以及根据所述量测值决定所述存储胞元的特性。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹市新竹科学工业园区研新三路4号 | ||