发明名称 METHOD FOR FORMING CAPACITOR ELECTRODE BY USING DAMASCENE METHOD
摘要 <p>본 발명은 고집적 반도체 메모리 소자를 구성하는 캐패시터의 전극 형성 방법에 관한 것으로, 상대적으로 식각이 용이한 PSG 등의 희생산화막을 캐패시터의 하부전극과 동일한 모양으로 음각한 뒤, 장벽금속막 및 하부전극을 이룰 금속막을 화학기상증착법으로 증착하여 공간을 채우고, 플라즈마를 이용하여 금속막 및 장벽금속막을 전면식각해서 하부전극을 고립시킨 다음 희생산화막을 습식식각으로 제거함으로써 수직한 양각의 미세 캐패시터 하부전극 패턴을 형성하는데 그 특징이 있다.</p>
申请公布号 KR100365757(B1) 申请公布日期 2002.12.26
申请号 KR19990065794 申请日期 1999.12.30
申请人 주식회사 하이닉스반도체 发明人 박병준;윤종원;김태한
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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