发明名称 | 一种二维位移工作台 | ||
摘要 | 本发明公开了一种二维位移工作台,由粗定位工作台(2)和细定位工作台(1)组成,细定位工作台的基座固定在粗定位工作台上。粗定位工作台由电机(11)、(12)驱动,细定位工作台由压电微位移器(15)、(16)驱动。在整个工作台的移动过程中,两个方向的位移量由正交衍射光栅尺(5)给出。工作台的特点是①采用闭环系统,工作台的定位速度快,采用粗定位和细定位相结合的方法,定位精度高。②工作台X、Y向移动均贴着一公共平面基准运动,使用工作台进行加工与测量时,具有确定的平面基准。③采用平面正交衍射光栅作为计量标准器,可显著减少阿贝尔误差,工作范围大,且较容易获得超精密级的分辨率。 | ||
申请公布号 | CN1387021A | 申请公布日期 | 2002.12.25 |
申请号 | CN02138704.4 | 申请日期 | 2002.06.21 |
申请人 | 华中科技大学 | 发明人 | 王选择;郭军;曾文涵;谢铁邦 |
分类号 | G01B11/04;B23Q1/25 | 主分类号 | G01B11/04 |
代理机构 | 华中科技大学专利中心 | 代理人 | 方放 |
主权项 | 1.一种二维位移工作台,包括粗定位工作台、细定位工作台、位置检测装置和信号处理与控制电路,其特征在于:所述粗定位工作台包括位于粗定位X向滚动导轨(15)中间的粗定位X向工作台(2),与位于粗定位Y向滚动导轨(4)中间的粗定位Y向工作台(3),并且两部分为内外两层分布;粗定位X向工作台(2)底部紧贴在运动基准A上,由粗定位X向驱动电机(12)、第一螺母螺杆机构(14)驱动,粗定位Y向工作台(3)由粗定位Y向驱动电机(11)和第二螺母螺杆机构(13)驱动;所述细定位工作台包括细定位X向工作台(21)和位于其外层的细定位Y向工作台(20),其基座(30)固定在粗定位X向工作台(2)上;细定位X向工作台(21)由与细定位Y向工作台(20)相连的X向支点(16)支承,通过压电微位移器(18)驱动;细定位Y向工作台(20)由与基座(30)相连的Y向支点(17)支承,通过压电微位移器(19)驱动;作为二维位移测量传感器的正交衍射光栅(5)位于工作台底部,并通过连杆(29)与细定位X向工作台(21)固定连接,激光器(7)位于正交衍射光栅(5)的下方,角锥棱镜(6)位于激光器(7)的四周,并与位于同一光路上的两组垂直放置的直角棱镜(8)、放大镜(9)和光电探测器(10)共同构成所述的位置检测装置,形成与位移有关的光栅信号;所述信号处理与控制电路包括压电微位移高压驱动电路(22)、D/A转换电路(23)、步进电机驱动器(24)、I/O控制电路(25)、光栅信号放大电路(26)、计数与细分电路(27)与计算机(28);计算机(28)通过D/A转换电路(23)与压电陶瓷高压驱动器(22)驱动压电微位移器(19),并通过I/O控制电路(25)和步进电机驱动器(24)驱动粗定位X向驱动电机(12)和粗定位Y向驱动电机(11);正交衍射光栅(5)通过光栅信号放大电路(26)和计数与细分电路(27)将位移信号传输给计算机(28)。 | ||
地址 | 430074湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |