发明名称 Trace-level gas analysis apparatus and method
摘要 A trace-level gas analysis apparatus having a diffusion scrubber 11 that captures atmospheric gas components and a sampling tube 10 that guides air into the diffusion scrubber 11 is provided with the cleaning means 2 for cleaning the diffusion scrubber 11 and the sampling tube 10, using a cleaning fluid 22.
申请公布号 US6497136(B2) 申请公布日期 2002.12.24
申请号 US20010774609 申请日期 2001.02.01
申请人 NEC CORPORATION 发明人 SATOU YUUICHI
分类号 G01N1/00;B01D53/22;G01N1/22;G01N30/02;G01N30/04;G01N30/08;(IPC1-7):G01N31/08;G01N30/96 主分类号 G01N1/00
代理机构 代理人
主权项
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