| 主权项 |
1.一种磁场感应积体电路之测试器,适用于测试一磁场感应积体电路之磁场感应灵敏度与磁滞宽度,包括:一磁场产生器,产生用以测试该磁场感应积体电路的一磁场;一微控制器,控制该磁场产生器产生该磁场,监测该磁场感应积体电路之反应,计算该磁场的一磁滞値,并将该磁滞値显示于一显示元件上;一积体电路插槽,用以将该磁场感应积体电路安装于该积体电路插槽中,并将安装好的该磁场感应积体电路送入该磁场中;以及一校正器,该校正器系用以调整该积体电路插槽的位置。2.如申请专利范围第1项所述之测试器,更包括一数位类比转换器,该微控制器控制该数位类比转换器以产生可控制的一稳定电压。3.如申请专利范围第2项所述之测试器,其中该稳定电压系被转换为一电流源以产生该磁场。4.一种磁场感应积体电路之测试器,适用于测试一磁场感应积体电路之磁场感应灵敏度与磁滞宽度,包括:一磁场产生器,产生用以测试该磁场感应积体电路的一磁场;一微控制器,控制该磁场产生器产生该磁场,监测该磁场感应积体电路之反应;以及一积体电路插槽,用以将该磁场感应积体电路安装于该积体电路插槽中,并将安装好的该磁场感应积体电路送入该磁场中。5.如申请专利范围第4项所述之测试器,其中该微控制器更计算该磁场之一磁滞値,并将该磁滞値显示于一显示元件上。6.如申请专利范围第4项所述之测试器,更包括一数位类比转换器,该微控制器控制该数位类比转换器以产生可控制的一稳定电压。7.如申请专利范围第6项所述之测试器,其中该稳定电压系被转换为一电流源以产生该磁场。8.如申请专利范围第4项所述之测试器,更包括一校正器,该校正器系用以调整该积体电路插槽的位置。图式简单说明:第1A图绘示的是习知技艺所使用之测试磁场感应积体电路的一种测试机台;第1B图绘示的是习知技艺所使用之测试磁场感应积体电路的另一种测试机台;第2图绘示的是根据本创作之一较佳实施例的系统方块图;第3图绘示的是根据本创作之另一较佳实施例的系统方块图。 |
