| 主权项 |
1.一种可变感测熔丝电路,包括:耦合至可变电源之第一熔丝,其中该电源在至少两电压电位间变化;耦合至该可变电源之第二熔丝;第一电路部分,用以控制第一电流,俾扩散该第一与第二熔丝;以及第二电路部分,用以解译该第一与第二熔丝状态,该第二电路部分更适于在该两电压电位间操作。2.如申请专利范围第1项之可变感测熔丝电路,其中该第一电路部分更包括用以控制第一测试电流之测试电路系统。3.如申请专利范围第2项之可变感测熔丝电路,其中该测试电路系统更可控制第二测试电流,该第一测试电流系该第二测试电流的一部份。4.如申请专利范围第3项之可变感测熔丝电路,其中该第一与第二熔丝、第一电路部分、第二电路部分以及该测试电路系统经整合成一矽晶片。5.如申请专利范围第1项之可变感测熔丝电路,其中该第二电路部分更包括逻辑电路系统,用以控制一数位输出指示该熔丝状态,该逻辑电路系统更适于在该两电压电位操作。6.如申请专利范围第5项之可变感测熔丝电路,其中该熔丝状态包括熔断与未熔断状态。7.如申请专利范围第5项之可变感测熔丝电路,其中该第一电路部分更包括用以控制第一与第二测试电流之测试电路系统。8.如申请专利范围第7项之可变感测熔丝电路,其中该逻辑电路系统更适于控制该数位输出,做为该第一与第二熔丝在各该第一与第二测试电流测试时之预定功能。9.如申请专利范围第8项之可变感测熔丝电路,其中该预定输出之预定功能包括:当该第一与第二熔丝经判定为扩散时,对该第一测试电流之高指示;以及当至少该第一与第二熔丝之一经判定为扩散时,对该第二测试电流之高指示。10.如申请专利范围第8项之可变感测熔丝电路,其中该第一与第二熔丝、第一与第二电路部分、逻辑电路系统以及测试电路系统经整合于一矽晶片上。11.一种对可变模式电路之熔丝调整方法,包括步骤如:熔断第一熔丝,该第一熔丝电性耦合至该可变模式电路;测试该第一熔丝于第一测试电流;以及解译该第一熔丝之熔丝状态于该第一测试电流。l2.如申请专利范围第11项之方法,更包括:熔断第二熔丝,该第二熔丝电气耦合至该可变模式电路;测试该第二熔丝于第一测试电流。13.如申请专利范围第12项之方法,更包括测试该第一与第二熔丝于第二测试电流。14.如申请专利范围第11项之方法,更包括:提供适于控制该第一测试电流之第一测试电路;以及提供适于提供数位输出指示该解译之熔丝状态,以及适于在复数个电压模式下操作解译电路部分。15.如申请专利范围第14项之方法,更包括整合该第一熔丝、第一测试电路与解译电路于一矽晶片中,其中该整合之矽晶片适于在复数个电压模式下操作。16.如申请专利范围第11项之方法,更包括:熔断第二熔丝,该第二熔丝电气耦合至该可变模式电路;以及测试该第一与第二熔丝于该第一与第二测试电流。17.如申请专利范围第16项之方法,更包括解译在该第一与第二测试电流下之第一与第二熔丝的焙丝状态。18.如申请专利范围第16项之方法,更包括提供一解译电路部分,其适于对应于该熔丝状态提供数位输出,并在复数个电压模式下操作。19.如申请专利范围第18项之方法,其中该解译电路部分更包括逻辑电路系统,其适于控制该数位输出,做为在各该第一与第二测试电流下之第一与第二熔丝状态之预定功能。20.如申请专利范围第19项之方法,其该数位输出之预定功能包括:当该第一与第二熔丝经判定为熔断时,对该第一测试电流之高指示;以及当至少该第一与第二熔丝之一经判定为熔断时,对该第二测试电流之高指示。图式简单说明:图1阐释依本发明之熔丝调整方法;图2阐释依本发明之熔丝电路方块图,其具可变电压熔丝解译器;图3阐释依本发明之较佳熔丝电路方块图,其具可变电压熔丝解译器;图4阐释依本发明之较佳控制逻辑图表。 |
