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发明名称 Automatic test apparatus for displaying semiconductor device characteristic curves
摘要
申请公布号 US3323059(A) 申请公布日期 1967.05.30
申请号 US19640363030 申请日期 1964.04.27
申请人 ERICKSON ROBERT A;SHORT HARVEY N;GILLETTE ROGER V 发明人 ERICKSON ROBERT A.;SHORT HARVEY N.;GILLETTE ROGER V.
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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