发明名称 | 中子显微镜 | ||
摘要 | 一种中子显微镜,包括由中子源发射的中子束经过长筒状的准直器准直、再经过单色器变成单色中子束后,通过狭缝由波带片将其中子束聚焦在置放在样品台上的待测样品上,待测样品产生的信号经正比计数器变成电流信号输入计算机进行重构处理。与在先技术相比,具有分辨率高,能够测量微细结构。可以广泛应用于工业、农业、生物医学、物理、地球化学和宇宙化学、考古和海洋学等方面的微观结构的观察测量。 | ||
申请公布号 | CN1385693A | 申请公布日期 | 2002.12.18 |
申请号 | CN02111729.2 | 申请日期 | 2002.05.17 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 陈建文;高鸿奕;谢红兰;徐至展 |
分类号 | G01N23/05;G01N23/00;G01N13/10 | 主分类号 | G01N23/05 |
代理机构 | 上海开祺专利代理有限公司 | 代理人 | 李兰英 |
主权项 | 1.一种中子显微镜,包括由屏蔽层(10)构成的屏蔽室(11)内置有中子源(1),其特征在于在屏蔽室(11)内由中子源(1)发射的中子束首先经过长筒状的中心轴线(OO′)与中子束中心束轴(OO′)重合置放的准直器(2),经准直器(2)准直的中子束射到入射面与中子束中心束轴(OO′)的夹角α=10°~20°置放的并中点(O′)在中子束中心束轴(OO′)上的单色器(3),经单色器(3)出射的中子束的中心束轴(O′O″)与单色器(3)入射面的夹角α′=α,经单色器(3)出射的单色中子束经过狭缝(4)和波带片(5)将中子束聚焦在置放在样品台(7)上的待测样品(6)上,待测样品(6)产生的信号经正比计数器(8)变成电流信号输入到计算机(9)内进行重构处理。 | ||
地址 | 201800上海市800-211邮政信箱 |