| 发明名称 |
Method of testing electronic components using mean deviation values |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1189068(A3) |
申请公布日期 |
2002.12.18 |
| 申请号 |
EP20010401851 |
申请日期 |
2001.07.10 |
| 申请人 |
BEALACH NO BO FINNE TEO/TA GALAXY |
发明人 |
LEJEUNE, PHILIPPE |
| 分类号 |
G01R31/01;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/01 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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