| 发明名称 |
PROBE AND SYSTEM FOR INSPECTING ELECTRICALLY CONDUCTIVE COMPONENTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL354416(A1) |
申请公布日期 |
2002.12.16 |
| 申请号 |
PL20020354416 |
申请日期 |
2002.06.11 |
| 申请人 |
GENERAL ELECTRIC CO. |
发明人 |
PLOTNIKOV YURI ALEXEYEVICH;NATH SHRIDHAR CHAMPAKNATH;ROSE CURTIS WAYNE;BATZINGER THOMAS JAMES;HERD KENNETH GORDON |
| 分类号 |
G01N27/90;(IPC1-7):G01N27/90 |
主分类号 |
G01N27/90 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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