| 主权项 |
1.一种验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其验证能对一光碟片进行DMA(陷缺管理区域)资讯之记录或再生之一记录与再生装置执行测试模式以测试所产生或更新之DMA资讯后,来验证DMA资讯是否适当产生或更新,该方法包括:读取所产生或更新之DMA资讯;以及利用测试模式所既定之参考DMA资讯以光碟片所产生或更新之DMA资讯,以提供所光碟片结果。2.如申请专利范围第1项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中所产生或更新后DMA资讯系以DMA镜射档案形式读取出。3.如申请专利范围第1项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中所产生或更新后DMA资讯系由一测试光碟片上之一DMA区域直接读取出。4.如申请专利范围第1项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该测试模式是:包括具验证之起始化与不具验证之起始化之第一测试模式;包括具验证之再起始化、具第二陷缺表列(SDL)转换之再起始化与清除G2表列与SDL之再起始化之第二测试模式;验证补充备用区域之扩张性之第三测试模式;以及验证是否记录系根据错误DMA资讯而进行之第四测试模式。5.如申请专利范围第4项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,更包括:藉由形成已知实际陷缺于不具有资讯之空白光碟片上而获得一第一测试光碟片,且使用该第一测试光碟片于该第一测试模式中;藉由在该第二测试模式中将记录DMA之既定内容于该第一测试光碟片上而获得一第二测试光碟片,且使用补充备用区域未填满之第一镜射档案当成记录于该第一测试光碟片上之DMA资讯;藉由在该第三测试模式中将记录DMA之既定内容于该第一测试光碟片上而获得一第三测试光碟片,且使用具有足够填满该补充备用区域之SDL陷缺之一第一镜射档案当成记录于该第一测试光碟片上之DMA资讯;以及藉由在该第四测试模式中将记录一第三镜射档案于该第一测试光碟片上而获得一第四测试光碟片,其中该DMA之既定内容中之各区之起始区段号码系故意写错。6.如申请专利范围第1项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该验证步骤包括:验证复数个DMA,写入于该光碟片上之复数个位置上之DMA具有相同资料。7.如申请专利范围第1项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该验证步骤包括于一DMA中验证碟片定义结构(DDS)。8.如申请专利范围第7项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该验证DDS步骤包括检查DDS辨认位元,碟片验证旗标,DDS/主陷缺表列(PDL)更新计数器,复数个群组,复数个区,一主备用区域之位置,各区之一第一逻辑区段号码之位置以及一起始逻辑区段号码。9.如申请专利范围第8项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中:检查该DDS辨认位元包括:检查是否该DDS辨认位元系既定値;检查该碟片验证旗标包括:根据既定测试模式而检查代表该碟片验证旗标中之处理中之位元値;代表使用者验证之位元値,以及代表碟片制造者验证之位元値;检查该DDS/PDL更新计数器包括:根据该既定测试模式,检查该DDS/PDL更新计数器値与代表在该既定测试前后之该DDS/PDL更新计数器中之差异値之该DDS/PDL更新计数器增量値;检查该些群组包括:根据碟片类型而检查该些群组;检查该些区包括:根据碟片类型而检查该些区;以及检查该主备用区域之该位置包括:检查该主备用区域之该第一与最后区段号码。10.如申请专利范围第9项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该检查该碟片验证旗标包括:检查是否该碟片验证旗标中代表处理中/未处理中之位元位置b7之値为"0b",且当该位元位置b7之値为"1b"时,通知使用者格式化系失败,因为当该位元位置b7之値为"0b"时,代表格式化系完成,而当该位元位置b7之値为"1b"时,代表格式化系仍处理中;检查是否该碟片验证旗标中之保留位元位置b6-b2皆为"0b";检查是否该碟片验证旗标中之代表该使用者验证旗标之位元位置b1之値,在不具验证之起始化模式中为"0b",且在具验证之起始化、不具验证之再起始化模式与具验证之再起始化模式中为"1b";以及检查是否该碟片验证旗标中之代表该碟片制造者验证旗标之位元位置b0之値,在不具验证之起始化与具验证之起始化模式中为"0b",且在不具验证之再起始化模式与具验证之再起始化模式中为"1b"。11.如申请专利范围第9项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中检查该DDS/PDL更新计数器包括:在不具验证之起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値与该DDS/PDL更新计数器之增量値系皆为"0";在具验证之起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値为"0"与代表既定测试前后之该DDS/PDL更新计数器差异値之该DDS/PDL更新计数器之增量値系为"1";在不具验证之再起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値为"先前値"与该DDS/PDL更新计数器之增量値系为"1";以及在具验证之再起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値为"先前値"与代表既定测试前后之该DDS/PDL更新计数器差异値之该DDS/PDL更新计数器之增量値系为"2"。12.如申请专利范围第1项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该验证步骤包括:验证一DMA中之主陷缺表列(PDL)结构。13.如申请专利范围第12项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该验证PDL结构之步骤包括:检查PDL辨认位元,在PDL中之入口数量以及PDL入口之完整性。14.如申请专利范围第13项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中:该辨认位元检查包括:检查是否该PDL辨认位元为既定値;检查该些入口包括:检查是否在该PDL中之入口数量为既定数量;以及检查该PDL入口之完整性包括:检查是否一第一逻辑区段号码之位置系根据暂存于该PDL中之入口数量而适当设定;以及检查是否各区之起始逻辑区段号码系根据暂存于该PDL中之入口数量而适当设定。15.如申请专利范围第14项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该检查该入口数量包括:在不具验证之起始化模式中,检查是否PDL中之入口数量是"0";以及具验证之起始化、不具验证之再起始化与具验证之再起始化模式中,检查是否在PDL中之入口数量系为已知实际陷缺与于制造过程中出现于碟片上不同位置之陷缺之总数量。16.如申请专利范围第14项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该检查PDL入口之完整性包括:于不具验证之起始化模式中,检查是否PDL入口类型与PDL入口之区域具有代表未使用区域之値;于具验证之起始化模式中,检查是否PDL入口类型为代表于使用者验证过程中所侦测到之陷缺区段之G1表列之"10b";于具验证之再起始化模式与具清除G2表列与次陷缺表列(SDL)之再起始化模式中,检查是否PDL入口类型为代表已知P表列之"00b"或代表于使用者验证过程中所侦测到之陷缺区段之G1表列之"10b";于具SDL转换之再起始化模式中,检查是否PDL入口类型为代表P表列之"00b"、代表于使用者验证过程中所侦测到之陷缺区段之G1表列之"10b"或代表于SDL转换后所获得之G2表列之"11b";以及于具验证之起始化、具SDL转换之再起始化与具清除G2表列与次陷缺表列(SDL)之再起始化模式中,于相关于已知实际陷缺数量之PDL入口系全部写入且于制造过程中在碟片不同处出现之陷缺区段上之所有资讯系写入之后,剩余之未使用区域为"FFh"。17.如申请专利范围第14项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该检查该第一逻辑区段号码与该起始逻辑区段号码之步骤包括:于不具验证之起始化模式中,检查各区之第一逻辑区段号码(LSN0)与该起始逻辑区段号码之位置系为相关于没有陷缺存在下之既定逻辑区段号码。18.如申请专利范围第1项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该验证包括验证在DMA中之SDL结构。19.如申请专利范围第18项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中验证该SDL结构之步骤包括:检查一SDL辨认位元;检查一SDL更新计数器与代表该SDL更新计数器値于该测试前后差异値之该SDL更新计数器增量値;检查一DDS/PDL更新计数器与代表该DDS/PDL更新计数器値于该测试前后差异値之该DDS/PDL更新计数器增量値;检查在SSA中之逻辑区段号码与逻辑区段之总数量;检查一备用区域填满旗标;检查在SDL中之入口数量;以及检查该SDL入口之完整性。20.如申请专利范围第19项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中检查该SDL更新计数器与该SDL更新计数器增量値包括:在不具验证之起始化模式中,检查是否四个SDL中之该SDL更新计数器値与该SDL更新计数器之增量値系皆为"0";在具验证之起始化模式中,检查是否该SDL更新计数器値为"0"与计数器增量値系为"1";在不具验证之再起始化模式中,检查是否该SDL更新计数器値为"先前値"与该SDL更新计数器之增量値系为"1";以及在具验证之再起始化模式中,检查是否该SDL更新计数器値为"先前値"与该SDL更新计数器增量値系为"2"。21.如申请专利范围第19项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中检查该DDS/PDL更新计数器包括:在不具验证之起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値与该DDS/PDL更新计数器之增量値系皆为"0";在具验证之起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値为"0"与代表既定测试前后之该DDS/PDL更新计数器差异値之该DDS/PDL更新计数器之增量値系为"1";在不具验证之再起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値为"先前値"与该DDS/PDL更新计数器之增量値系为"1";以及在具验证之再起始化模式中,检查是否该DDS/PDL更新计数器値为"先前値"与代表既定测试前后之该DDS/PDL更新计数器差异値之该DDS/PDL更新计数器之增量値系为"2"。22.如申请专利范围第19项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中检查在SSA中之逻辑区段号码与逻辑区段之总数量包括:在起始模式或再起始模式中,检查是否SSA之起始区段号码是相关于由使用者指定之SSA大小之起始区段号码,以及检查是否逻辑区段之总数量为根据使用者指定之SSA大小而适当设定之逻辑区段总数量。23.如申请专利范围第19项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中检查该备用区域填满旗标包括:检查是否主备用区域(PSA)填满旗标是根据PDL中入口数量而设定;以及检查是否SSA填满旗标是根据SDL中入口数量而设定。24.如申请专利范围第23项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中检查该备用区域填满旗标包括:在起始化模式与再起始化模式中,检查是否SSA填满旗标是设定至SSA未填满状态;以及验证补充备用区域扩张性之模式中,在扩张补充备用区域之后,检查是否SSA填满旗标是设定至SSA未填满状态。25.如申请专利范围第23项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该检查SDL中入口数量包括:在不具验证之起始化、具验证之起始化、具验证之再起始化以及具清除G2表列与SDL之再起始化模式中,检查是否SDL中之入口数量是设定为"0";以及在具SDL转换之再起始化模式中,检查是否SDL中之入口数量是设定为未转换至G2表列之剩余SDL入口数量。26.如申请专利范围第19项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该检查SDL入口之完整性包括:在不具验证之起始化、具验证之起始化、具验证之再起始化以及具清除G2表列与SDL之再起始化模式中,因为假设没有资讯存在于这些位元组位置中,检查是否代表SDL入口完整性与备用区域完整性之位元组位置系设定为代表未使用区域之"FFh";以及在具SDL转换之再起始化模式中,因为SDL入口完整性可能包括未转换成G2表列入口之SDL入口,因而假设没有资讯存在于这些位元组位置中,检查是否代表剩余SDL入口完整性与备用区域完整性之位元组位置系设定为代表未使用区域之"FFh"。27.一种验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其验证能对一光碟片进行DMA(陷缺管理区域)资讯之记录或再生之一记录与再生装置是否适当产生或更新DMA资讯,该方法包括:根据一测试模式,设定一测试参考;根据该测试模式,从由该记录与再生装置所产生或更新之不具有任何相关实际陷缺之DMA资讯来产生测试资讯;以及在再起始化模式中,利用该测试参考来执行一测试以验证该测试资讯。28.如申请专利范围第27项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,更包括:藉由形成已知实际陷缺于一空白光碟片上而获得一第一测试光碟片;记录DMA之既定内容于该第一测试光碟片上且记录根据该测试模式之一镜射档案于该第一测试光碟片上而获得一第二测试光碟片,且利用该第二测试光碟片于产生该测试资讯中。29.一种验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其验证能对一光碟片进行DMA(陷缺管理区域)资讯之记录或再生之一记录与再生装置是否适当产生或更新DMA资讯,该方法包括:根据一测试模式,从由该记录与再生装置所产生或更新之不具有任何相关实际陷缺之DMA资讯来产生测试资讯;以及利用一测试参考来测试该测试资讯以验证该DMA资讯。30.如申请专利范围第29项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其中该测试资讯是一DMA镜射档案。31.一种验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其验证一记录与再生装置是否适当读取与处理DMA资讯,该方法包括:根据一测试模式,于包含既定陷缺资讯之一测试光碟片上,利用该记录与再生装置执行一处理以产生测试资讯;以及将该测试资讯与一测试参考比较,以决定该记录与再生装置之验证。32.如申请专利范围第31项所述之验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,更包括:形成已知实际陷缺于一空白光碟片上之既定位置以当成该既定陷缺资讯,而获得一第一测试光碟片;记录DMA之既定内容于该第一测试光碟片上且记录根据该测试模式之一镜射档案于该第一测试光碟片上而获得一第二测试光碟片;令该记录与再生装置执行该处理于该第二测试光碟片上以产生具该DMA资讯之一第二测试光碟片;以及从具该DMA资讯之该第二测试光碟片读取该DMA资讯,以产生一测试DMA镜射档案,当成该测试资讯;其中该参考测试资讯是一参考DMA镜射档案。33.一种验证光碟片之缺陷管理区域资讯之方法,其验证一记录与再生装置是否适当转换与处理陷缺资讯,该方法包括:根据一测试模式,准备具有已知实际陷缺与一测试参考DMA镜射档案之一测试光碟片;根据该记录与再生装置执行该测试模式于该测试光碟片上而产生测试资讯;以及对该测试资讯进行一验证测试。34.一种DMA资讯,其由一记录与再生装置利用下列步骤而产生:根据一测试模式,由该记录与再生装置对包括已知实际陷缺与一测试参考DMA镜射档案之一测试光碟片执行一处理以产生该DMA资讯;从所产生之该DMA资讯以产生测试资讯;以及比较该测试资讯与参考测试资讯以决定该记录与再生装置之验证。35.如申请专利范围第34项所述之DMA资讯,其中该比较步骤包括:检查形成该测试资讯之DMA结构、DMA之碟片定义结构(DDS);DMA之主陷缺表列(PDL)与次表列(SDL)。图式简单说明:第1图是光碟片DMA结构之检查项目表;第2图是光碟片DDS之检查项目表;第3图是光碟片PDL之检查项目表;第4图是光碟片SDL之检查项目表;以及第5A-5D图是根据本发明之实施例之光碟片DMA资讯之流程图。 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