发明名称 | 存储器大规模集成电路特定部分的搜索方法和装置 | ||
摘要 | 搜索存储器大规模集成电路的特定存储单元的方法,用于参考对应于对多个重复配置的存储单元的阵列结构的集成电路上进行电气测试的结果输出的逻辑地址的物理地址部分操作为存储器大规模集成电路进行分析、处理或观测。此外,参考包含存储单元的阵列结构的端点、存储单元、存储单元之间部分的区域持续观测位置坐标,根据亮度或发光度的变化对现有存储单元号进行计数,计算值和物理地址值彼此一致的部分选为所述逻辑地址的部分。 | ||
申请公布号 | CN1096111C | 申请公布日期 | 2002.12.11 |
申请号 | CN97118628.6 | 申请日期 | 1997.09.11 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 杉本正明 |
分类号 | H01L21/66;G06F17/50 | 主分类号 | H01L21/66 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王忠忠;张志醒 |
主权项 | 1.一种存储器大规模集成电路的特定存储单元的搜索方法,所述方法用于参考对应于作为在多个存储单元重复配置的阵列结构的存储器大规模集成电路上进行电气测试的结果输出的逻辑地址的物理地址的一部分进行分析、处理或观测操作,其中:相对于包含所述存储单元的阵列结构的端点、存储单元、存储单元之间部分的区域持续观测位置坐标,根据亮度或发光度的变化对存储器大规模集成电路上现有的存储单元或进行计数,所述计算值和所述物理地址所表示的值彼此一致的部分选择为所述逻辑地址的部分。 | ||
地址 | 日本东京都 |