发明名称 Integrierter Speicher und Verfahren zum Testen eines integrierten Speichers
摘要 Ein integrierter Speicher weist ein Speicherzellenfeld (1) mit Wortleitungen (WL1, WL2) und Bitleitungen (BL1, BL2) auf. Die Bitleitungen (BL1, BL2) sind zum Auslesen eines Datensignals jeweils über ein steuerbares Schaltmittel (T1, T2) mit einem Leseverstärker (SA) verbindbar. Weiterhin ist eine Steuerschaltung (S) enthalten mit einem Ausgang, der mit einem Steuereingang des jeweiligen Schaltmittels (T1, T2) verbunden ist, und mit einem Eingang, der mit einem Anschluß für ein Testmodussignal (TM) verbunden ist. Die Steuerschaltung (S) ist derart ausgebildet, daß innerhalb eines Zugriffszyklus das jeweilige Schaltmittel (T1, T2) infolge eines aktiven Zustands des Testmodussignals (TM) in einen nicht leitenden Zustand schaltbar ist. Bei dem integrierten Speicher ist das Leckverhalten einer Bitleitung beim Auslesen eines Datensignals messbar.
申请公布号 DE10119052(C1) 申请公布日期 2002.12.05
申请号 DE20011019052 申请日期 2001.04.18
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 STIEF, REIDAR;BEER, PETER;SCHROEDER, STEPHAN;BENZINGER, HERBERT
分类号 G11C29/02;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/02
代理机构 代理人
主权项
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