发明名称 |
Verdrahtungsschicht-Trockenätzverfahren und Halbleitervorrichtung-Herstellungsverfahren |
摘要 |
Ein Verdrahtungsschicht-Trockenätzverfahren wird so verbessert, daß die elektrischen Eigenschaften einer Halbleitervorrichtung nicht gemindert werden. Ein Halbleitersubstrat (7), auf dem eine Maske (10) zur Musterbildung einer Verdrahtungsschicht (9) gebildet ist, wird hergestellt, wobei die Maske (10) auf der Verdrahtungsschicht (9) gebildet wird (ein erster Schritt). Betroffene Schichten auf einer Oberfläche der Verdrahtungsschicht (9) werden trockengeätzt und entfernt (zweiter Schritt). Die Verdrahtungsschicht (9) wird durch Verwendung der Maske (10) trockengeätzt (dritter Schritt). Wenn der Wechsel von dem zweiten Schritt zu dem dritten Schritt ausgeführt wird, wird ein Absaugen nicht ausgeführt, und eine kontinuierliche Entladung wird ausgeführt.
|
申请公布号 |
DE10215764(A1) |
申请公布日期 |
2002.12.05 |
申请号 |
DE20021015764 |
申请日期 |
2002.04.10 |
申请人 |
MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
KAWAI, KENJI;NISHIURA, ATSUNORI;YOSHIFUKU, RYOICHI |
分类号 |
H01L21/28;H01L21/302;H01L21/3065;H01L21/3213;(IPC1-7):H01L21/768 |
主分类号 |
H01L21/28 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|