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<p>Testverfahren zum Testen eines Datenspeichers mit integrierter Testdaten-Kompressionsschaltung (16), wobei der Datenspeicher (1) ein Speicherzellenfeld (10) mit einer Vielzahl von adressierbaren Speicherzellen, Schreib-/Leseverstärker (12) zum Einschreiben und Auslesen von Daten in die Speicherzellen über einen internen Datenbus (12) des Datenspeichers (1) und eine Testdaten-Kompressionsschaltung (16) aufweist, die Testdatenfolgen, die jeweils aus dem Speicherzellenfeld (10) seriell ausgelesen werden, mit gespeicherten Referenz-Testdatenfolgen zur Erzeugung von jeweils einem Anzeigedatum komprimiert, welches anzeigt, ob in der ausgelesenen Testdatenfolge mindestens ein Datenfehler aufgetreten ist.</p> |
