发明名称 Mechanismus zur Prüfung und Diagnose
摘要
申请公布号 DE69712982(T2) 申请公布日期 2002.11.28
申请号 DE19976012982T 申请日期 1997.03.03
申请人 SHARP K.K., OSAKA;SHARP MICROELETRONICS TECHNOLOGY, INC. 发明人 SPADERNA, DIETER;SABHA, RAED
分类号 G06F11/22;G06F11/273;G06F15/78;(IPC1-7):G06F11/00 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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