| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft einen dynamischen Speicher mit einem Speicherzellenfeld (10) einem Testkontroller (12) zum Testen des Speicherzellenfeldes (10) und einem Oszillator (14) zum Steuern eines Auffrischens des Speicherzellenfeldes (10). Der Speicher weist erfindungsgemäß Mittel (16) zum Nutzen des Oszillators (14) als Zeitbasis für den Testkontroller auf. Hierdurch steht eine 'langsame' Zeitbasis zur Verfügung, die für verschiedene Selbsttests des Speichers genutzt werden kann.</p> |
