发明名称 有预凹坑的光学记录媒体的孔径比测量装置
摘要 一种AR测量装置接收照射在光学记录媒体上的光束的反射光,该光学记录媒体具有其上通过第一光接收表面与第二光接收表面在轨道之间反复形成预凹坑的记录表面,根据第一和第二光接收表面的光接收信号之间的差获得推挽信号,通过在预定时间长度内对推挽信号进行取样来收集取样信号,并在预定时间长度内重复取样多次,确定与多次取样数据的预凹坑位置相对应的每个数据值是否获得了预定次数或者更多次,计算与以预定次数或者更多次获取的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值的比,作为孔径比。
申请公布号 CN1381837A 申请公布日期 2002.11.27
申请号 CN02106289.7 申请日期 2002.02.23
申请人 日本先锋公司 发明人 加藤正浩;梁川直治;米龙大;村松优子;铃木真二
分类号 G11B7/00;G11B7/26;G11B23/00 主分类号 G11B7/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 傅康
主权项 1、一种用于光盘记录媒体的孔径比检测装置,该记录媒体具有记录表面,其上具有在轨道之间反复形成的凹坑,并携带与所述轨道相关的信息,该装置包括:光学检测装置,该装置具有一个沿着所述轨道的切线方向被分成第一和第二光接收面的光接收表面,用于在所述第一和第二光接收面上接收照射在所述记录表面的光束的反射光,输出与所述第一和第二光接收面上各自接收的光数量相应的第一和第二光检测信号;减法装置,用于计算从所述光检测装置输出的第一和第二光检测信号的差,从而产生一个推挽信号;收集装置,用于收集通过在预定时间长度内取样所述推挽信号所获得的取样数据,以及用于在预定时间长度内多次重复取样操作;频率确定装置,用于确定是否每个与被所述收集装置多次收集的取样数据的预凹坑的位置相应的数据值被获取了预定次数或者更多次;和孔径比计算装置,用于在所述频率确定装置确定数据值已被获取了预定次数或者更多次的时候,计算与被获取了预定次数或者更多次的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值之间的比,作为孔径比。
地址 日本东京都