发明名称 METHOD OF CHARACTERIZING A DEVICE UNDER TEST
摘要
申请公布号 KR20020088061(A) 申请公布日期 2002.11.25
申请号 KR1020027004664 申请日期 2002.04.12
申请人 发明人
分类号 G01R35/00 主分类号 G01R35/00
代理机构 代理人
主权项
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