| 主权项 |
1.一种光学扫瞄器之扫瞄方法,其步骤包括:(a)提供一校正板;(b)分别对该校正板以及扫瞄器之盖板底色进行扫瞄校正;(c)计算校正板之校正参数以及其与盖板底色之亮度差异并将结果储存;(d)提供一扫瞄物件;(e)对扫瞄器之盖板底色进行预扫;(f)计算预扫时盖板底色与校正板之亮度差异,并对校正参数之亮度値进行调整;(g)对物件进行扫瞄并撷取影像资料;(h)以调整后之校正参数对所扫瞄之影像资料进行补偿校正。2.如申请专利范围第1项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中校正板可提供扫瞄器计算扫瞄起始位置、亮度仅以及放大率等校正参数。3.如申请专利范围第1项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中扫瞄器系利用一记忆体储存步骤(c)之计算结果。4.如申请专利范围第1项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中步骤(d)之物件系放置于扫瞄器之承载板上。5.如申请专利范围第1项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中步骤(g)系以影像撷取元件撷取物件之影像资料。6.一种光学扫瞄器之扫瞄方法,该扫瞄器内部系储存有校正参数以及其与盖板底色之亮度差异,其步骤包括:(a)提供一扫瞄物件;(b)对扫瞄器之盖板底色进行预扫;(c)计算预扫时盖板底色与校正板之亮度差异,并对校正参数之亮度値进行调整;(d)对物件进行扫瞄并撷取影像资料;(e)以调整后之校正参数对所扫瞄之影像资料进行补偿校正。7.如申请专利范围第6项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中扫瞄器系利用记忆体储存校正参数以及其与盖板底色之亮度差异。8.如申请专利范围第6项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中扫瞄器系透过对校正板的扫瞄以取得校正参数。9.如申请专利范围第6项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中校正参数系包括扫瞄起始位置、亮度値以及放大率等。10.如申请专利范围第6项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中步骤(a)之物件系放置于扫瞄器之承载板上。11.如申请专利范围第1项所述之光学扫瞄器之扫瞄方法,其中步骤(d)系以影像撷取元件撷取物件之影像资料。图式简单说明:图一系为扫瞄器之内部结构示意图;图二系为习知技术之扫瞄器执行影像扫瞄之流程图;图三系为本发明之扫瞄器执行影像扫瞄之流程图。 |
