发明名称 Vorrichtung und Verfahren zum Polieren des Umfangs eines Wafers
摘要 Wenn ein Wafer (1) geklemmt und um seine Achse gedreht wird, werden bogenförmige Arbeitsflächen (22) erster und zweiter Schrägflächenpolierelemente (13a, 13b) in Linienkontakt mit schrägen Flächen (2a, 2b), die an vorderen bzw. hinteren Flächen des Wafers (1) angeordnet sind, gebracht. Die bogenförmige Arbeitsfläche (42) eines Umfangsflächenpolierelementes (14) wird in Linienkontakt mit einer Umfangsfläche (3) des Wafers (1) gebracht. Eine scheibenförmige Arbeitsfläche (60) eines Umfangskantenpolierelementes (15) wird in Flächenkontakt mit der Vorderseite (5) des Wafers (1) an dessen Umfangskante gebracht. Hierdurch werden die schrägen Flächen (2a, 2b), die Umfangsfläche (3) und die Umfangskante (5) gleichzeitig durch die zugeordneten Polierelemente (13a, 13b, 14, 15) poliert. Dadurch kann ein nicht benötigter Teil eines Metallfilmes (4) von dem Umfang des Wafers (1) entfernt werden (Fig. 1).
申请公布号 DE10219450(A1) 申请公布日期 2002.11.21
申请号 DE2002119450 申请日期 2002.04.30
申请人 SPEEDFAM CO., LTD. 发明人 HAKOMORI, SHUNJI
分类号 B24B5/50;B24B7/20;B24B9/00;B24B9/06;H01L21/304;(IPC1-7):B24B9/02 主分类号 B24B5/50
代理机构 代理人
主权项
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