发明名称 |
PRODUCTION METHOD FOR A SEMICONDUCTOR COMPONENT |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung schafft ein Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements mit einem Substrat (1) und einem auf dem Substrat (1) angeordneten Elektrodenstapel (7, 9', 11', 13), welcher eine Polysilizium-Elektrodenschicht (7) und eine darüberliegende wolframhaltige Elektrodenschicht (9') aufweist, mit den Schritten: Bereitstellen des Substrats (1); Abscheiben einer Schichtenfolge mit der Polysiliziumschicht (7), einer darüber liegenden wolframhaltigen Vorläuferschicht (9) und einer darüber liegenden Schutzschicht; Tempern der Schichtenfolge bei einer ersten Temperatur (T1), bei der eine kristalline Umwandlung in der wolframhaltigen Vorläuferschicht (9) stattfindet, so dass daraus die Elektrodenschicht (9') gebildet wird; Strukturieren der Schichtenfolge zum Elektrodenstapel (7, 9', 11', 13); und Bildung von Seitenwandspacern (13) durch Oxidieren der Polysiliziumschicht (7) bei einer zweiten Temperatur (T2), wobei die zweite Temperatur (T2) derart niedriger als die erste Temperatur (T1) gew hlt ist, dass keine kristalline Umwandlung in der Elektrodenschicht (9') stattfindet.
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申请公布号 |
WO02093629(A1) |
申请公布日期 |
2002.11.21 |
申请号 |
WO2002EP04065 |
申请日期 |
2002.04.11 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG;BEWERSDORFF-SARLETTE, ULRIKE;SCHNEEGANS, MANFRED;JAEGER, WOLFGANG;WEGE, STEPHAN |
发明人 |
BEWERSDORFF-SARLETTE, ULRIKE;SCHNEEGANS, MANFRED;JAEGER, WOLFGANG;WEGE, STEPHAN |
分类号 |
H01L21/28;H01L21/321;H01L29/49;(IPC1-7):H01L21/28 |
主分类号 |
H01L21/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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