发明名称 半导体存储装置
摘要 一种半导体存储装置,包括存储单元部和外围电路部。上述存储单元部具有:在第1方向延伸的第1布线;配置在上述第1布线上方并在第2方向延伸的第2布线;在上述第1和第2布线间配置的第3布线;以及配置上述第1和第2布线的交点上并连接上述第2和第3布线的第1磁电阻效应元件。上述外围电路部具有:第4布线;配置在上述第4布线上方的第5布线;以及配置在上述第4和第5布线间,连接上述第4和第5布线,并作为电阻元件、熔丝元件或接点使用的第2磁电阻效应元件。
申请公布号 CN1379472A 申请公布日期 2002.11.13
申请号 CN02119813.6 申请日期 2002.03.29
申请人 株式会社东芝 发明人 浅尾吉昭;须之内一正;中岛健太郎
分类号 H01L27/00;G11C11/15 主分类号 H01L27/00
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王以平
主权项 1、一种半导体存储装置,具有存储单元部和配置在该存储单元部外围的外围电路部,其特征在于,上述存储单元部具有:在第1方向延伸的第1布线;配置在上述第1布线上方,并在与上述第1方向不同的第2方向延伸的第2布线;配置在上述第1和第2布线间的第3布线;以及配置在上述第1和第2布线间的上述第1和第2布线的交点上,并连接上述第2和第3布线的第1磁电阻效应元件,上述外围电路部具有:第4布线;配置在上述第4布线上方的第5布线;以及配置在上述第4和第5布线间,连接上述第4和第5布线,并作为电阻元件、熔丝元件和接点中的任一个使用的第2磁电阻效应元件。
地址 日本东京都