发明名称 METHOD FOR MINIMIZING TUNGSTEN OXIDE EVAPORATION DURING SELECTIVE SIDEWALL OXIDATION OF TUNGSTEN-SILICON GATES
摘要 <p>Bei der an sich bekannten selektiven Oxidation von Gatestrukturen, die eine polykristalline Siliziumschicht und eine Wolframschicht enthalten, wird die Wolframoxidausdampfung durch eine spezielle Prozessführung verhindert oder zumindest stark reduziert. Dabei wird vor und gegebenenfalls nach einem Behandlungsschritt mit einem Wasserstoff/Wasser-Gemisch die Gatestruktur mit einem Wasserstoff enthaltenden, nichtwäßrigen Inertgas beaufschlagt.</p>
申请公布号 WO2002089190(A2) 申请公布日期 2002.11.07
申请号 DE2002001321 申请日期 2002.04.10
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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