低成本CMOS测试仪

摘要

用低成本CMOS元件实现的自动测试设备，使用了一个延迟锁定环以补偿由过程变化和工作温度的慢变化所引起的定时差异。本设计还减少了在处理随被编程频率变化的信号的主要定时通路中的电路元件数量。

主权项

1.利用集成电路芯片上的一个定时发生器产生多个定时信号的自动测试设备，其中定时信号的频率可以通过该自动测试设备的控制程序改变，所述自动测试设备包括：A)一个在集成电路芯片上承载定时信号的信号通路；B)一个在集成电路芯片上的功率通路；和C)一个具有连接到所述信号通路的输入端的沿信号速率补偿电路，包括： (i)一个具有第一连接点和第二连接点的电阻元件，所述第一连接点被连接到所述功率通路；和 (ii)一个开关电路，具有一连接到沿信号速率补偿器的输入端的输入端和一连接到所述电阻元件的第二连接点的输出端，该开关电路以与其输入端的信号的频率成反比的量吸收电流。