| 主权项 |
1.一种IC产品放置盘检测工具,适用于专门检测IC放置盘之规格,其具有一长度检测区,主要包含有:一长度基准边形成于长度检测区之一边缘,其具有第一基准面、第二基准面及一承载面;一长度检测边形成于长度检测区之对应边缘,且其具有第一测量面、第二测量面及一承载面;及一长度检测区开口,用以放置推入之IC产品放置盘;该长度基准边之第一基准面及第二基准面与该长度检测边之第一测量面及第二测量面系为倾斜而不平行,且于该长度检测区开口具有较大之距离。2.如申请专利范围第1项所述之IC产品放置盘检测工具,其中该长度基准边之承载面与该长度检测边之承载面系位于同一平面。3.如申请专利范围第1项所述之IC产品放置盘检测工具,其中该长度基准边或该长度检测边具有一上基准线、一下基准线,系用以区分过长或过短之不合格IC产品放置盘。4.如申请专利范围第1项所述之IC产品放置盘检测工具,其另包含有一宽度检测区,其中:一宽度基准边形成于宽度检测区之一边缘,其具有一基准面;一宽度检测边形成于宽度检测区之对应边缘,其具有一测量面;及一宽度检测区开口,用以放置推入之IC产品放置盘;该宽度基准边之基准面与该宽度检测边之测量面系为倾斜而不平行,且于该宽度检测区开口具有较大之距离。5.如申请专利范围第4项所述之IC产品放置盘检测工具,其中该宽度基准边或该宽度检测边具有一基准线,系用以区分过宽或过窄之不合格IC产品放置盘。图式简单说明:第1图:在本创作之第一具体实施例中,一IC产品放置盘检测工具之立体图;第2图:在本创作之第一具体实施例中,该IC产品放置盘检测工具之俯视图;第3图:在本创作之第一具体实施例中,该IC产品放置盘检测工具检测合格之俯视图;第4图:在本创作之第一具体实施例中,该IC产品放置盘检测工具检测不合格之俯视图。 |
