| 摘要 |
Ein Gerät zum Testen von digitalen und analogen Signalen von einem integrierten Schaltkreis umfasst ein Addierglied oder ein Subtrahierglied 17, dem ein analoges Signal, das von dem integrierten Schaltkreis eines zu testenden Bauelements ausgegeben wird und ein Signal, das von einem Treiber 11 ausgegeben wird, zugeführt wird, einen Integrator 14, dem ein analoges Signal zugeführt wird, das von dem Addierglied oder Subtrahierglied 17 ausgegeben wird, einen Umschalter 22 zur selektiven Übertragung eines analogen Signals, das vom Integrator 14 ausgegeben wird, und eines digitales Signals, das von dem integrierten Schaltkreis an den Vergleicher 13 ausgegeben wird, und einen Umschalter 24 zur selektiven Übertragung eines Signals, das von einem Speicher 20 ausgegeben wird und eines Signals, das von einem Vergleicher 13 an den Treiber 11 ausgegeben wird. Mindestens einer der Umschalter 22, 24 wird abhängig davon betätigt, ob ein zu testendes Signal analog oder digital ist.
|
