发明名称 Algorithmisch programmierbarer Speichertester mit Unterbrechungspunktauslöser, Fehlerblockierung und Oszilloskop-Modus, der Zielsequenzen speichert
摘要 Ein Auslösesignal für einen Speichertester, der algorithmische Testprogramme aufweist, erfaßt das Auftreten einer Auslöserspezifikation, die hinsichtlich existierender Hardwarequantitäten ausgedrückt ist, die verwendet werden, um das DUT zu betreiben. Dies bildet einen rohen Hardware-(Unterbrechungspunkt-)Auslöser, der weiter gemäß dem Teil des Testprogramms qualifiziert werden kann, der ausgeführt wird. Der qualifizierte Unterbrechungspunktauslöser kann um null oder mehrere DUT-Zyklen verzögert werden, bevor er ein Systemauslösesignal wird, das verwendet werden kann, um einen Oszilloskop-Modus auszulösen, und um ein Fehlerflag auf einen ausgewählten Wert zu zwingen, um so einen bestimmten Pfad bei dem Testprogramm zu erzwingen. Ein Benutzer steht mit einem Prozeß, der nicht Teil des Testprogramms ist, in Wechselwirkung, um eine Auslösespezifikation aus Masken- und Vergleichsmechanismen zu definieren, die die rohe Auslösebedingung an dem Pegel der Hardwareregisterwerte erkennen. Dieser Prozeß informiert auch den Kompilierer darüber, welche Abschnitte des Testprogramms die rohe Auslöserspezifikation aktivieren sollen (durch ein Einstellen eines Bits in dem Anweisungswort durchgeführt).
申请公布号 DE10217303(A1) 申请公布日期 2002.10.31
申请号 DE20021017303 申请日期 2002.04.18
申请人 AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE) 发明人 KRECH, ALAN S. JR.;REAK, BRAD D.;BAILEY, RANDY L.;FREESEMAN, JOHN M.
分类号 G01R31/319;G01R31/28;G06F11/22;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
地址