Grid scan cell and chip test apparatus using the grid scan cell for minimizing test time

摘要

본 발명은 다방향으로의 데이터 진행이 가능한 그리드 스캔 셀을 이용하여 테스트 시간을 효과적으로 줄인, 그리드 스캔 셀 및 그를 이용한 칩 테스트 장치를 제공하기 위한 것으로, 이를 위해 본 발명은 칩의 DFT(Design For Testability)를 위한 그리드 스캔 셀에 있어서, 데이터 인에이블 신호, X방향 스캔 인에이블 신호 및 Y방향 스캔 인에이블 신호에 응답하여 데이터 신호, X방향 스캔 데이터 및 Y방향 스캔 데이터 중 하나를 선택적으로 출력하는 다중화 선택 수단; 및 클럭 신호에 응답하여 상기 다중화 선택 수단으로부터 출력되는 데이터를 저장 및 출력하기 위한 저장 수단을 포함하며, 상기 저장 수단의 출력단이 상기 다중화 선택 수단으로 피드백 입력되도록 구성되어 X 방향 및 Y 방향으로의 데이터 쉬프트 동작이 가능하다. 또한, 본 발명은 X 방향 및 Y 방향으로의 데이터 쉬프트 동작이 가능한 그리드 스캔 셀을 이용하여 다수의 논리회로부를 포함하는 칩을 테스트하기 위한 장치에 있어서, 상기 그리드 스캔 셀의 X 방향 스캔 데이터 포트를 통해 가로 방향으로 서로 연결된 N개의 제1 그리드 스캔 셀; 및 상기 그리드 스캔 셀의 Y 방향 스캔 데이터 포트를 통해 세로 방향으로 서로 연결된 M개의 제2 그리드 스캔 셀을 포함한다.