摘要 |
<p>Ein Zufallszahlengenerator weist eine Anzahl von Halbleiterbauelementen mit im Durchschnitt einer elektrisch aktiven Störstelle im für die Verarbeitung wichtigen Frequenzband in seiner Kristallstruktur auf. Mit einer Besetzungs-Erfassungseinheit wird ein geeigneter Transistor ausgewählt und dessen Besetzung oder eine Änderung der Besetzung in der elektrisch aktiven Störstelle des ausgewählten Transistors ermittelt. Mit einer Zufallszahlen-Umsetzungseinheit wird aus der ermittelten Besetzung oder der Änderung der Besetzung eine Zufallszahl gebildet.</p> |