发明名称 | 磁共振成像装置及其磁场变化测量方法和补偿方法 | ||
摘要 | 为了补偿MRI装置的静态磁场的变化,配置RF探针1P1和1P2,并且在开始时以参考频率的形式测量参考静态磁场;在适当的时间以频率的形式测量静态磁场,以便从它们的差别确定静态磁场变化的量。校正RF脉冲的发送频率和NMR信号的接收检测频率或者校正梯度线圈的梯度电流、以便补偿所述磁场变化量。 | ||
申请公布号 | CN1374069A | 申请公布日期 | 2002.10.16 |
申请号 | CN01137484.5 | 申请日期 | 2001.11.15 |
申请人 | GE医疗系统环球技术有限公司 | 发明人 | 后藤隆男 |
分类号 | A61B5/055;G01R33/20 | 主分类号 | A61B5/055 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 吴增勇;傅康 |
主权项 | 1.一种磁场变化测量方法,所述方法包括以下步骤:在MRI装置的图像区域附近配置I个(其中I≥1)RF探针,每个探针具有能够发射FID(无感应衰减)信号的小幻象电路和小线圈的组合;当测量参考磁场时,从所述RF探针发送RF脉冲并接收FID信号以便从所述FID信号确定参考频率fir(其中i=1-I);当测量磁场变化时,从所述RF探针发送RF脉冲并接收FID信号以便从所述FID信号确定频率fi;以及通过求解下列方程式确定第j阶磁场变化αj:<math> <mrow> <msub> <mi>f</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>f</mi> <mi>ir</mi> </msub> <mo>=</mo> <munderover> <mi>Σ</mi> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>0</mn> </mrow> <mrow> <mi>I</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </munderover> <msub> <mi>α</mi> <mi>j</mi> </msub> <mo>·</mo> <msubsup> <mi>r</mi> <mi>i</mi> <mi>j</mi> </msubsup> <mo>,</mo> </mrow> </math> 其中各个RF探针的位置用ri表示。 | ||
地址 | 美国威斯康星州 |