发明名称 |
半导体衬底的制备方法 |
摘要 |
磷化铟半导体衬底(10)是为随后生长外延层(12到16)生长而制备的,以形成一个半导体器件(5)。在制备中,首先对衬底(10)进行退火来促进来自衬底扩散的杂质原子的表面堆积趋势,并有助于衬底表面杂质原子的消除。然后对衬底(10)进行表面腐蚀来进一步消除杂质,并为随后的外延层生长提供一个干净、平整的表面。制备的最后阶段包括在衬底上生长一个半绝缘缓冲层(11)将衬底与器件外延层(12到16)隔离开。 |
申请公布号 |
CN1092839C |
申请公布日期 |
2002.10.16 |
申请号 |
CN95194628.5 |
申请日期 |
1995.06.29 |
申请人 |
英国电讯公司 |
发明人 |
P·C·斯佩登斯;M·A·沙尔特;M·J·哈劳;D·J·纽森 |
分类号 |
H01L21/20 |
主分类号 |
H01L21/20 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
董巍;萧掬昌 |
主权项 |
1.用于制备半导体衬底,以便随后在其上生长半导体层的方法,所属半导体衬底为III-V化合物,该方法包括以下步骤:(a)将所述衬底置于反应室中;(b)将一种气体介质引入反应室;(c)在气体介质存在下对衬底退火,以降低衬底中杂质原子的浓度;并且之后,(d)当衬底在反应室中时,在衬底上生长一个或多个缓冲层,该缓冲层或至少一个缓冲层包含掺金属原子的半导体材料,以提供载流子陷阱。 |
地址 |
英国英格兰伦敦 |