发明名称 弯曲及/或差别沈陷的检出器及测量一种构造的方法
摘要 一种弯曲及/或差别沉陷的检出器及测量一种构造的方法,其中,有一列元件(1)用于放置成抵住所要测量的构造,藉着把各元件(1)的底垫(4)抵住该构造的一表面支持住而将该一列元件(1)放置成顶住所要测量的构造。这些元件(1)利用关节(2)连接,且它们之间的元件(1)的角度偏差利用角度偏差检出装置(19)测出。角度偏差检出装置(19)的信号利用一处理单元(29)处理。此外还关于其应用,以便用很简单的方式将一个大致预制及预配线的一检出器作安装。
申请公布号 TW505780 申请公布日期 2002.10.11
申请号 TW090109104 申请日期 2001.04.18
申请人 伯纳德 侯达克 发明人 伯纳德 侯达克
分类号 G01M1/00;G01B11/06 主分类号 G01M1/00
代理机构 代理人 林镒珠 台北市长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种弯曲及∕或差别沉陷的检出器,其特征在: 该检出器包含: ---有一列元件(1),这些元件(1)利用关节(2)互相连接 ,且用于安装设成和要检出差别弯曲及∕或沉陷的 构造(12)的一表面(13)(34)的轮廓耦合;及 ---用于检出相邻元件(1)之间的相对角度偏差的角 度偏差检出装置(19)。2.如申请专利范围第1项的检 出器,其中: 该用于检出角度偏差的角度偏差检出装置(19)包含 用于检出该二元件的各元件的二个点间的距离的 装置,该二点位于一条线(23)上,该线延伸在距该关 节(2)的轴(3)一段距离处。3.如申请专利范围第2项 的检出器,其中: 该距离的检出手段(19)包含至少一条光纤(24)(27),呈 功能方式安装在该二点之间。4.如申请专利范围 第1或第2项的检出器,其中: 各元件(1)包含一个固定底(4)及一由该底竖立起来 的侧翼(7),且该关节(2)将该元件(1)在其底(4)附近连 接,且该用于检出角度偏差的角度偏差检出装置(19 )接到该元件的侧翼(7)。5.如申请专利范围第1或第 2项的检出器,其中: 该检出器包含固定装置(11)以将各元件(1)固定在该 构造上,该固定装置位在该元件(1)的各端之间的中 间位置。6.如申请专利范围第5项的检出器,其中: 该固定装置(11)系藉着将元件(1)沿切向紧贴住构造 (12)的表面(13)而装设。7.如申请专利范围第5项的 检出器,其中: 该固定装置包含二个各别的孔(11)形式的装置,大 致沿该系列元件的方向分布。8.如申请专利范围 第1或第2项的检出器,其中: 该检出器包含该系统元件(1)的固定装置(36)以将之 固定在相邻元件(1)之间的关节(2)的区域中。9.如 申请专利范围第1或第2项的检出器,其中: 这些元件(1)至少有二种不同长度,该长度系延该系 列元件的方向测量者。10.如申请专利范围第1或第 2项的检出器,其中: 这些元件(1)之中至少有一个包含可调节的支持装 置(16),以使其在构造(12)的表面的支持作用稳定。 11.一种用于测量一种构造的差别弯曲及∕或沉陷 的方法,其特征在: 沿着该构造(12)的一表面(13)(34)的至少一部分放多 个连续的元件(1),该元件之间用关节(2)连接,且检 出连续元件之间的角度偏差。12.如申请专利范围 第11项的方法,其中: 将该检出器放在一凸起的表面(13)且为此将该元件 (1)固定成使其中间区域大致和该表面(13)相切。13. 如申请专利范围第12项的方法,其中: 利用二个固定装置(14)将各元件(1)固定,该固定装 置大致循着该元件(1)的系列的方向。14.如申请专 利范围第11项的方法,其中: 将该系列的元件(1)在关节(2)附近固定到该构造(12) 上。15.如申请专利范围第11项或第12项的方法,其 中: 利用快速旋紧装置,如螺纹夹(33)将该系列元件(1) 与该表面(13)(34)(44)结合,或利用重力使该系列元件 (1)倚靠在该表面上而使该系列元件(1)与该表面(13) (34)(44)结合。图式简单说明: 第1图系依本发明的弯曲及∕或差别沉陷的检出器 的立体示意图; 第2图系在所要测量的构造的一条梁下方的检出器 的一个快速安装的实施例; 第3图系固定在该梁下的检出器的水平视图; 第4图系第3图的实施例的详细图,梁在变形状态; 第5图系与第4图相似,但检出器设在梁上方; 第6图系经一孔道的横切面图,设孔道设有本发明 的检出器; 第7图系本发明的一检出器的视图,它放在一个要 测量几何性质的地面。
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